Baza wiedzy: Uniwersytet im. Adama Mickiewicza

Ustawienia i Twoje konto

Powrót

Wzór przemysłowy i jego ochrona w prawie polskim i wspólnotowym

Autorzy:

  • Jakub Wiesław Kępiński

Streszczenie

Prezentowana monografia w sposób kompleksowy przedstawia problematykę ochrony wzorów przemysłowych. Omówione szczegółowo zostały w niej m.in.: definicja wzoru przemysłowego, przesłanki konieczne do uzyskania jego ochrony, procedura rejestracji wzoru, a także ochrona wzoru na podstawie przepisów prawa autorskiego, prawa znaków towarowych i prawa nieuczciwej konkurencji. Wszystkie te zagadnienia zostały opracowane w odniesieniu do prawa Unii Europejskiej. Producenci zdają sobie sprawę z wagi wyglądu produktu i w walce o klienta prześcigają się w wytwarzaniu produktów coraz to ładniejszych, ciekawszych i bardziej zaskakujących. By sprostać wymaganiom stawianym przez konsumentów, producenci muszą ponieść duże nakłady finansowe. Dlatego ustawodawcy przewidzieli możliwość ochrony produktów, w przypadku których najważniejszy jest odpowiedni wygląd. Monografia zainteresuje prawników, rzeczników patentowych, studentów prawa, a także osoby, którym zależy na ochronie swoich produktów - producentów, projektantów i artystów.

Identyfikator pozycji
UAM52c387a72123427bbec4012b18d687a4
Rodzaj wydawnictwa książkowego
Monografia
Kategorie publikacji
książka dydaktyczna
Autor
Wydawca (w tym z wykazu wydawców MNiSW)
Wolters Kluwer Polska
Paginacja
348
Objętość publikacji w arkuszach wydawniczych
17,40
ISBN
978-83-264-0442-9
Rok wydania
2010
Słowa kluczowe w języku polskim
Wzornictwo przemysłowe; prawo; Polska; rozprawy akademickie; Kraje Unii Europejskiej
URL
https://www.profinfo.pl/sklep/wzor-przemyslowy-i-jego-ochrona-w-prawie-polskim-i-wspolnotowym,21590.html otwiera się w nowej karcie
Język
pl polski
Punktacja (całkowita)
12

Cytuj


Jednolity identyfikator zasobu
https://researchportal.amu.edu.pl/info/book/UAM52c387a72123427bbec4012b18d687a4/

* Podana liczba cytowań wynika z analizy informacji dostępnych w Internecie i jest zbliżona do wartości obliczanej przy pomocy systemu Publish or Perishotwiera się w nowej karcie.


Potwierdzenie
Czy jesteś pewien?
Zgłoszenie uwag dotyczących tej strony